– l'organisation intergouvernementale dont les États Membres agissent
en commun en ce qui concerne les sujets liés à la science des mesures
et aux étalons de mesure.
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Certificats d'étalonnage et notes d'étude : Égypte
2018
No 28 100 pF capacitance standard, No. 02006 NIS, Égypte
No 27 10 pF capacitance standard, No. 02004 NIS, Égypte

2017
No 31 Ionization chamber, PTW 34069, No. 195, in low-energy x-rays NIS, Égypte
No 30 Ionization chamber, NE 2530, No. 424, in a 137Cs beam NIS, Égypte
No 29 Ionization chamber, PTW 23343, No. 2862, in low-energy x-rays NIS, Égypte
No 28 Ionization chamber, NE 2561, No. 229, in a 60Co beam NIS, Égypte
No 27 Ionization chamber, NE 2561, No. 229, in medium energy x-rays NIS, Égypte
No 26 Ionization chamber, NE 2571, No. 1262, in a 60Co beam NIS, Égypte
No 25 Ionization chamber, NE 2571, No. 1262, in medium energy x-rays NIS, Égypte

2016
No 45 10 000 Ω resistance standard, ESI type SR104, No. 307109 NIS, Égypte
No 44 10 000 Ω resistance standard, ESI type SR104, No. 307106 NIS, Égypte
No 43 100 & Omega; resistance standard, . J1-0901609 NIS, Égypte
No 42 100 Ω resistance standard, IET type SR102, No. J1-0901608 NIS, Égypte
No 41 1 Ω resistance standard, Leeds and Northrup type 4210, No. 1684330 NIS, Égypte
No 40 1 Ω resistance standard, Leeds and Northrup type 4210, No. 1681958 NIS, Égypte
No 39 1 Ω resistance standard, Leeds and Northrup type 4210, No. 1679692 NIS, Égypte

2014
No 59 100 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling AH11A, No. 02006 NIS, Égypte
No 58 10 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling AH11A, No. 02004 NIS, Égypte
No 57 1 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling AH11A, No. 02002 NIS, Égypte

2013
No 11 10 000 Ω resistance standard, ESI type SR 104, No. 307109 NIS, Égypte
No 10 1 Ω resistance standard, Leeds and Northrup type 4210, No. 1679692 NIS, Égypte
No 9 1 Ω resistance standard, Leeds and Northrup type 4210, No. 1684330 NIS, Égypte
No 8 1 Ω resistance standard, Leeds and Northrup type 4210, No. 1681958 NIS, Égypte

2012
No 22 Ionization chamber PTW 23343, No. 2862 in low-energy x-rays NIS, Égypte
No 21 Ionization chamber PTW 23342, No. 1250 in low-energy x-rays NIS, Égypte
No 20 Ionization chamber PTW 30013, No. 2016 in medium-energy x-rays NIS, Égypte
No 19 Ionization chamber NE 2530, No. 424 in a 137Cs gamma-ray beam NIS, Égypte
No 18 Ionization chamber NE 2561, No. 229 in a 60Co gamma-ray beam NIS, Égypte
No 17 Ionization chamber PTW 30013, No. 2016 in a 60Co gamma-ray beam NIS, Égypte

2011
No 1 1 kg mass prototype, No. 58 Égypte

2010
No 43 1 kg mass standard in stainless steel, E1 NIS, Égypte
No 42 1 kg mass standard in stainless steel, A NIS, Égypte

2009
No 67 10 000 ohm resistance standard, No. 307106 NIS, Égypte
No 66 1 ohm resistance standard, No. 1679692 NIS, Égypte
No 65 1 ohm resistance standard, No. 1684330 NIS, Égypte
No 64 1 ohm resistance standard, No. 1681958 NIS, Égypte
No 56 Zener diode voltage standard, No. 8140006 NIS, Égypte
No 55 Zener diode voltage standard, No. 8140009 NIS, Égypte

2007
No 43 Zener diode voltage standard, No. 8 140 006 NIS, Égypte
No 39 Helium-neon laser at 633 nm, No. 299s NIS, Égypte
No 27 1 ohm resistance standard, No. 1684330 NIS, Égypte
No 26 1 ohm resistance standard, No. 1681958 NIS, Égypte
No 18 Ionization chamber in low-energy x-rays, No. 1250 NIS, Égypte
No 17 Ionization chamber in medium-energy x-rays, No. 2016 NIS, Égypte
No 16 Ionization chamber in gamma-ray beams, No 2016 NIS, Égypte
No 15 Ionization chamber in medium-energy x-rays, No.229 NIS, Égypte
No 14 Ionization chamber in gamma-ray beams, No. 229 NIS, Égypte

2004
No 71 Helium-neon laser at 633 nm, No. 299s NIS, Égypte
No 39 Zener diode voltage standard, No. 8140006 NIS, Égypte

2002
No 49 1 ohm resistance standard, No. 168 433 0 NIS, Égypte
No 48 1 ohm resistance standard, No. 167 969 2 NIS, Égypte
No 47 1 ohm resistance standard, No. 168 195 8 NIS, Égypte
No 18 Ionization chamber in 60Co gamma-ray beam, PTW 23343-2862 NIS, Égypte
No 17 Ionization chamber in 60Co gamma-ray beam, NE 2571-1262 NIS, Égypte
No 16 Ionization chamber in 60Co gamma-ray beam, NE 2561-229 NIS, Égypte
No 15 Ionization chamber in medium-energy x-rays, NE 2571-1262 NIS, Égypte
No 14 Ionization chamber in medium-energy x-rays, NE 2561-229 NIS, Égypte
No 13 Étalon de force électomotrice à diode de Zener, no 582 5005 NIS, Égypte
No 12 Prototype de masse, no 58 Égypte

Notes d'étude
2018
No. 2 1 pF capacitance standards, No. 02002 NIS, Égypte

2010
No. 3 1 kg mass standard in stainless steel, E0 NIS, Égypte

2009
No. 6 1.018 V electronic voltage standard, No. 8140003 NIS, Égypte
Traçabilité au SI par l'intermédiaire du BIPM
Domaine :
Qu'est-ce que la traçabilité ?
Politique du BIPM concernant les déclarations d'incertitude
Services fournis par État Membre
Chimie
Électricité
Masses
Rayonnements ionisants
Temps
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Comparaisons conduites par le BIPM