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Besoins en métrologie dimensionnelle
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La 21e Conférence générale des poids et mesures,
considérant que
les besoins de la métrologie dimensionnelle de haut niveau s'accroissent de façon continue,
les tolérances dans les procédés de fabrication de haute technologie continuent à se resserrer et atteignent déjà dans certains domaines la limite des possibilités actuelles,
le domaine de mesures pour lequel de telles exigences se manifestent s'étend inclusivement du domaine de la nanotechnologie jusqu'à celui de la géophysique,
plusieurs autres domaines de la métrologie font appel aux unités dérivées du SI qui elles-mêmes impliquent le mètre,
les demandes les plus exigeantes en métrologie dimensionnelle font souvent appel à la réalisation du mètre par les moyens les plus simples et les plus directs possibles, à l'aide de lasers asservis,
pour répondre aux besoins à venir et pour assurer que le système métrologique mondial sera en mesure de répondre à ces besoins, il est essentiel de poursuivre des recherches de base,
recommande que les laboratoires nationaux maintiennent un large éventail de recherches de base dans le domaine des longueurs, incluant la conservation et la mise en œuvre de techniques propres à répondre aux exigences croissantes et diversifiées dans le domaine de la métrologie dimensionnelle.
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Référence : |
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Comptes rendus de la 21e CGPM (1999), 2001, 141
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Metrologia, 2000, 37(1), 93
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